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大型設備基盤センターの歩み


沿革

  • 昭和40年4月 学術振興委員会の発足
    大型研究分析機器の管理運営と研究成果報告書の発行を行う。

  • 昭和62年5月 計測分析センターの設置
    学内の大型研究分析機器の集中的管理・運営と物質科学および計測分析技術に 関する研究・教育を計る。

  • 平成4年3月 計測分析センター建屋完成(面積1,089m2、4階建)
    専用の建屋が完成し、研究分析機器の集中的管理を行う。
    平成5年9月に共同研究センター、平成9年3月に極微構造デバイス研究センターの建屋が近接して完成し、3センターのグループ化を行う。センター間の 先端研究技術情報の効率的運用を計る。

  • 平成16年4月 テクノイノベーションセンターの先端計測分析部門として組織変更し、産業界の技術開発ニーズへの対応を計る。

  • 平成19年4月 大型設備基盤センターとして組織変更。



主要装置の導入歴史


設備・備品名 製作所 規格・性能 購入年度
高分解能核磁気共鳴装置 日立製作所 R-20B型 S45
電子スピン共鳴装置 日本電子 TES-MX-2X S47
ガラス旋盤 日善製作所 D-16-22 S50
ヘリウム液化機 British Oxygen Co. SCA型 8L/hr S51
特殊低温型示差走査熱量計 理学電機 -150℃〜200℃コンピューター制御 S55
超伝導高分解能フーリエ変換
核磁気共鳴装置
バリアン XLー200型 S57
X線回析装置 理学電機 RAD-2A SCカウンター、プログラムスキャンと
制御演算装置
S57
質量分析計 理学電機 MS型検出器 EMD-05B
直接試料導入装置 MD-DI61
ヒーター制御電源 MD-PS62
UVレコーダー MD-VG86
S58
極微小領域表面分析装置 日本電子 JAMP-10S S58
放射能測定装置 産業科学 ガンマー線エリアモニター S59
微小部走査観察X線分析装置 日本電子 JCXA-733型 S60
透過型分析電子顕微鏡 日本電子 JEM-2000FX型 S60
電子スピン共鳴装置用分光計 日本電子 JES-FM S60
フーリエ変換赤外分光光度計 日本電子 JERー100型 S61
質量分析計システム 日立製作所 MS-2000S S62
核磁気共鳴装置 日立製作所 Rー90型 S62
イオン薄膜作製装置 日本電子 JIT-100型
ターミネーターイオン安定装置付
S62
示差熱分析装置 理学電機 サーモフレックス TB-02064 S62
示差熱分析装置 理学電機 TG,DTA,DSC S62
光電子分光装置 SSI SSXー100型 S62
薄膜併用X線回折装置 理学電機 RINT1100 H2
電子スピン共鳴装置 日本電子 JES-REIX H3
NMR用コンピューター バリアン XL-200用 H4
超電導固体核磁気共鳴装置 バリアン UNITY 400plus H4
イオンスパッタリング装置 日本真空 IBS-2000BK H5
オージェ分析装置 日本電子 JAMP-7800 H5
X線マイクロアナライザー 日本電子 JXA-8800 ノーランインスツルメント社製
VOYEGER型 EDS
H5
熱分析装置 理学電機 TAS-300 H6
フーリエ変換ラマン分光装置 Nicolet FT-Raman 950A H6
SQUID磁力計 QUANTUM DESIGN MPNS-5P H6
フーリエ変換赤外分光光度計 パーキンエレマー Spectrum 2000 H7
放射能測定システム アロカ γ線検出装置(ARC-380) H7
X線回析装置 理学電機 RINT-2100 H8
透過型高分解能電子顕微鏡 日本電子 JEM-3010 H8
2次イオン質量分析装置 ATOMIKA SIMS-4000 H8
高分解能核磁気共鳴装置 バリアン GEMINI2000 H9
イオンミリング装置 IONTECH B500AP H9
ヘリウム液化機 LINDE TCF-20 (40L/h) H11
精密イオンポリシング装置 ガタン社製 モデル691PIPS H12
表面あらさ形状測定機 東京精密 SURFCOM1400D H14
示差走査熱量計 リガク DSC8230 H14
透過型分析電子顕微鏡 日本電子 JEM-2010 H14
高精度多元組成・構造解析システム 日本電子 JSM-7001F H19
走査型プローブ顕微鏡 日本電子 JSPM-5200 H19
電界放出型ナノ解析透過電子顕微鏡 日本電子 JEM2100F H21
透過型高分解能電子顕微鏡 日本電子 JEM-2000EXII H21
イオンスライサ 日本電子 EM-09100IS H21
3次元電子顕微鏡 日本電子 JEM-z2500 H21
凍結試料作製装置 日本電子 EM-19500 JFD II H21
電界放出型電子プローブマイクロアナライザー 日本電子 JXA-8530F H21
内部起電力像測定装置 日本電子 JSM-6510 H21
集束イオンビーム試料作製装置 日本電子 EM-9320FIB H21
薄膜結晶用X線回折装置 リガク SmartLab H21
X線光電子分光分析装置 アルバックファイ PHI5000 H21
超伝導高分解能核磁気共鳴装置 Bruker AVANCE400
Nanobay
H21
超伝導高分解能核磁気共鳴装置 Bruker AVANCE500US
CryoProbe
H21
レーザーイオン化高分解能飛行時間型MS 日本電子 JMS-S3000 H21
液体クロマトグラフ高分解能飛行型MS ウォーターズ ESI/Synapt G2 HDMS H21
ガスクロマトグラフ高分解能飛行時間型MS ウォーターズ GCT Premier GC/TOFMS H21
電子スピン共鳴装置 日本電子 JES-FA200 H21
レーザーラマン分光分析装置 日本分光 NRS-3300 H21
マルチタイプICP発光分光分析装置 島津製作所 ICPE-9000 H21
超高感度等温滴定型熱量計 GEヘルスケアバイオサイエンス iTC200 H21
ナノ材料物性評価システム 日本カンタムデザイン PPMS H21
電界放出形透過電子顕微鏡 日本電子 JEM-2100 H22
集束イオン/電子ビーム 複合ビーム加工観察装置 日本電子 JIB-4500 H22
電界放出形オージェマイクロプローブ 日本電子 JAMP-9500F H22
全自動元素分析装置 DKSHジャパン vario EL cube H22
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光 FT/IR-6300, IRT-5000 H22
熱分析装置(示差熱天秤) リガク TG8120  H23 
熱分析装置(示差走査熱量計) リガク DSC8120 H23
         
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