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大型設備基盤センター 物理・表面計測系

透過電子顕微鏡 JEM-2000EXU

JEM-2000EXU写真

設置場所

大型設備基盤センター(22号館) 1階102室

装置管理者・連絡先

この装置に関する相談・お問い合わせは、設備取扱責任者(小坂井)へお願いします。


装置性能および仕様(平成2年導入当時)

JEM-2000EXU(トップエントリー構成、日本電子製)
分解能 格子像 Lattice Image 0.102 nm
Resolution 粒子像 Point Image 0.21 nm
加速電圧 Accelerating Voltage 200 kV(現在は160kVで使用)
拡大倍率 Magnification 4,000〜600,000
カメラ長 Camera Length 100〜2,000 mm
試料ホルダー Specimen Holder Single Tilt type
Double Tilt type(±10°)

注意:導入から相当期間経過しているので、上記の性能(特に分解能)は得られていないと考えられる。



利用方法及び利用料金

利用について

学内
教職員および学生のうち設備取扱責任者(小坂井)から許可を得た方のみが使用できます。利用申請の際に透過電子顕微鏡使用実績などを伺い、 許可の許諾を判定します。
学生の場合は担当教員と相談の上、利用の可否を問合せてください。
また、以下の条件を満たしていることが必須です。
・使用料金支払が可能な方
・学内の液体窒素利用資格者
・試料の汚染を防止する目的で、液体窒素トラップが設置されています。利用者は学内の講習を必ず受けて資格を取得してください。

試料について

以下の試料については観察できません。使用申請時に観察試料について事前報告して頂きます。
1)毒物、危険物
2)ガスなどが発生する恐れがあり、装置を汚染あるいは故障の原因となる物質
3)強い磁化を有する物質
4)その他、取扱責任者が、使用に適さないと判定した試料
事前報告されていない試料・物質を観察し、装置内の汚染や故障が生じた場合は、復帰に要した費用を全額負担して頂きます。


利用申込み手順

利用を希望する方は、設備取扱責任者(小坂井)まで事前にご連絡ください。 事前の問合せで利用許可を得た方だけがポータル内の機器分析受付システムから予約してください。

利用料金

学内
利用料金は、学内利用料金表をご参照ください。


利用に際してのお願い

使用中の装置トラブルや故障の際は、直ぐに設備取扱責任者に連絡してください。



学外の方へ

本装置は学外開放しておりません。
他の装置についてのご相談、または受託試験を希望される学外の方は、受託試験案内をご覧下さい。



         
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