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【暫定版】

大型設備基盤センター 物理・表面計測系

透過電子顕微鏡 JEM-z2500

JEM-z2500

設置場所

2号館 122B室
3次元電子顕微鏡
日本電子 JEM-z2500(後継機 JEM-2800)

装置管理者・連絡先

この装置に関する相談・お問い合わせは
大型設備基盤センターまたは設備取扱責任者(永田・樋口)へご連絡ください。

装置性能および仕様

JEM-z2500 (電界放出型ナノ解析電子顕微鏡、日本電子製)
電子銃   サーマルショットキー電界放出形電子銃
最大加速電圧 200 kV
分解能 二次電子像 0.5nm
TEM格子像 0.1nm
STEM像 0.2nm
倍率 SEI ×100 〜 ×20,000,000
STEM ×100 〜 ×20,000,000
TEM ×500 〜 ×20,000,000
元素分析 エネルギー分散形X線元素分析装置(検出元素 B〜U)
観察・分析以外の機能 電子線回折を用いた結晶方位解析
3次元トモグラフィー


利用方法及び利用料金

利用について

  • 学内
    教職員および学生のうち装置担当者(永田・樋口)から許可を得た方のみが使用できます。 原則として試料調製ができる方とします。初めて使う方は必ず事前に装置担当者(永田・樋口)へご連絡ください。(あらかじめ講習を受けて操作法を習熟した方のみ利用許可者として登録されます。 )
    学生は指導教員と相談の上、ご相談ください。
    また以下の条件を満たしていることが必須となります。

      ● 使用料金を支払うことができる方

      ● 学内の液体窒素利用資格者

    試料汚染を防止するため、液体窒素トラップを設けていますので、利用者は必ず学内の講習を受け液体窒素利用資格を取得してください。

  • 学外
    ご相談、または受託試験を希望される学外の方は、受託試験案内をご覧下さい。

試料について

以下の試料については扱えません

  (1) 毒物、危険物

  (2) ガスが発生するなど、装置の故障の原因となる試料

  (3) 強い磁化を持つ試料(磁性体については別途ご相談ください)

  (4) 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れがあると判断した試料

利用申し込み手順

利用を希望する方は大型設備基盤センター(事務室)または設備取扱責任者(永田)まで事前にご連絡ください。 学内の方で既に使われている方はポータル内の機器分析受付システムから予約してください。 システムへのアクセス方法については学内利用案内をご確認ください。



利用料金

使用に際してのお願い

装置のトラブルや故障の際はすぐに装置担当者(永田・樋口)に連絡してください。(不在の場合は、大型設備基盤センター事務室まで連絡してください。)



備考

ミスオペレーションによる装置の破損については修理費等を徴収します。
液体窒素使用時には部屋に置いてある注意事項をよく読み作業してください。



         
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