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【暫定版】

大型設備基盤センター 物理・表面計測系

透過型電子顕微鏡室 III

外観
本測定室では、主にソフトマテリアル(有機材料)やナノ材料を対象として、生体適用ミクロ・ナノ粒子やハイブリッド材料など物質の微細構造の観察、 解析を行っています。対象となるソフトマテリアルやナノ材料は、無機材料系のみならず、有機高分子材料、生物系、有機・無機コンポジット材料など 多岐にわたります。観察、解析手法としては電子回折、明視野法、暗視野法、高分解能電子顕微鏡 (TEM)法、高分解能走査透過電子顕微鏡(STEM)法、エネルギ―分散型X線分光(EDS)分析などを駆使して行います。また、コンピュータトモグラフィー法を用いて、3次元的なTEM像を映し出すことができ、先端的な材料開発に貢献しています。

また、電子顕微鏡の前処理装置として、ソフトマテリアルである生物・高分子材料系を対象とする試料作製装置は、生物試料から高分子材料までの幅広い試料作製を行うことができます。

TEM

JFD



装置紹介

装置名 設置場所
日本電子,JEM-z2500 2号館122B室
日本電子,EM-19500 JFD II 2号館909A室

装置の使用については上記のリンクをご覧ください。

利用方法及び利用料金

利用について

  • 学内
    教職員および学生のうち装置担当者(永田・樋口)から許可を得た方のみが使用できます。 原則として試料調製ができる方とします。初めて使う方は必ず事前に装置担当者(永田・樋口)へご連絡ください。(あらかじめ講習を受けて操作法を習熟した方のみ利用許可者として登録されます。 )
    学生は指導教員と相談の上、ご相談ください。
    また以下の条件を満たしていることが必須となります。

      ● 使用料金を支払うことができる方

      ● 学内の液体窒素利用資格者

    試料汚染を防止するため、液体窒素トラップを設けていますので、利用者は必ず学内の講習を受け液体窒素利用資格を取得してください。

  • 学外
    ご相談、または受託試験を希望される学外の方は、受託試験案内をご覧下さい。

試料について

以下の試料については扱えません

  (1) 毒物、危険物

  (2) ガスが発生するなど、装置の故障の原因となる試料

  (3) 強い磁化を持つ試料(磁性体については別途ご相談ください)

  (4) 前処理や分析過程で、装置に障害をきたす恐れがあると判断した試料

利用申し込み手順

利用を希望する方は大型設備基盤センター(事務室)または設備取扱責任者(永田)まで事前にご連絡ください。 学内の方で既に使われている方はポータル内の機器分析受付システムから予約してください。 システムへのアクセス方法については学内利用案内をご確認ください。



利用料金

使用に際してのお願い

装置のトラブルや故障の際はすぐに装置担当者(永田・樋口)に連絡してください。(不在の場合は、大型設備基盤センター事務室まで連絡してください。)



備考

ミスオペレーションによる装置の破損については修理費等を徴収します。
液体窒素使用時には部屋に置いてある注意事項をよく読み作業してください。



装置管理者・連絡先

この装置に関する相談・お問い合わせは
大型設備基盤センターまたは設備取扱責任者(永田・樋口)までご連絡ください。学外の方は直接センター事務(5533)へお問い合わせください。



         
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